瞄准射频及存储器市场，爱德万测试再推新方案

作者:中国电子商情 单祥茹  来源:中国电子商情

发布时间:2016-09-09

物联网（IoT）作为行业的热门话题已经延续多年，而这一概念也带动了很多市场的快速发展，尤其是传感、无线互连、存储等市场的成长速度更是惊人。今天，IoT的市场影响力已经扩散到自动测试设备（ATE）这个相对稳定的行业。约占全球ATE市场半壁江山的爱德万（Advantest）测试也于近日推出了一系列全新测试产品，这些产品主要针对由IoT应用衍生出的射频、NAND和SSD存储等多种测试需求。

V93000平台新增Wave Scale测试板卡为下一代射频产品提供高效测试
爱德万测试是半导体行业自动测试设备(ATE)的领先制造商，也是电子仪器和系统设计生产中所用测试系统的主要制造商。其领先的系统和产品应用于世界上最先进的半导体生产线，V93000平台更是爱德万测试的常青树。该平台堪称ATE行业的标杆，通过板卡的升级，多年来V93000平台不断被扩展，使之能够始终满足最新测试的需求。

作为IoT的典型应用，智能家居因与人们的生活密切相关，随着智能手机普及率的不断上升，利用它对家庭设施进行控制无疑是上佳的选择。虽然4G的大规模商用尚未完全实现，然而5G的技术竞争已经进入白热化。

爱德万测试的新款测试板卡Wave Scale系列，其目标主要瞄准了射频及无线通信领域，能够为LTE、 LTE-Advanced 和 LTE-A Pro 智能手机及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、蓝牙及物联网应用等半导体芯片提供高效的测试解决方案。新的测试板卡在满足当前市场需求的同时，还突出了一些5G网络上可能会出现的技术变化。

新款V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX测试板卡充分考虑到射频及混合信号集成电路测试时的并行性及产能的需求，可实现高并行、多芯片同测及芯片内并行测试，可节省测试时间达60%。对于如今的射频半导体器件而言，将从根本上降低测试成本，并缩短产品进入市场的时间，同时为未来5G芯片的测试开辟出一条新的路径。

相比市场上同类产品，基于V93000平台的 Wave Scale测试板卡采用了更为先进的架构。传统的射频测试解决方案一直沿用多芯片同测的方式，如四或八芯片同测，但是一次仅在芯片内对一种射频标准进行测试。Wave Scale RF及相应的Wave Scale MX测试板卡能在一个射频芯片内同时对多种标准或者多个路径进行测试，通过高效的芯片内并行及高同测效率的多芯片并行，显著降低了这些复杂射频器件的测试成本。在每块板上，Wave Scale RF板卡拥有四个独立的射频子系统并带有独立的信号激励及测量能力，可在同一时间对LTE、GPS、蓝牙及WLAN器件进行测试 。每个子系统带有八个单独的端口，能同时将射频信号扇出到最多四个独立的测量仪器。因此，每个射频子系统可支持多达八个芯片的RX（接收器) 和TX （发射器)测试，每块板卡最多支持32个芯片同时测试。Wave Scale RF板卡的32个射频端口都能支持最高至6GHz的频率。凭借200MHz带宽及包括提供内部回路，嵌入式校准等在内的其他各种特征，该板卡能很好地支持包括未来5G半导体器件在内的一系列广泛应用。 Wave Scale MX高速混合信号测试板卡为模拟IQ基带应用及高速DAC和ADC测试进行了优化，每块板卡上拥有32个完全独立的测试仪器，并且每个通道上带有一个额外的参数测量单元（PMU）以实现高精度的DC测量。其16位AC激励及测量功能为专用基带通信标准提供更加优化的测试性能。300MHz的带宽使完全支持最新调制标准，包括对基带复合信号进行带外测量。Wave Scale MX拥有灵活的I/O 矩阵，每个测试通道都提供全方位的功能，降低了负载板的复杂性，同时提升了多芯片同测的能力。除了IQ 校准需要一块校准板外，无需专用的校准设备。

图1  Wave Scale RF是真正的全并行测试，通过高效的芯片内并行及高同测效率的多芯片并行，显著降低了这些复杂射频器件的测试成本

全新Wave Scale RF及Wave Scale MX板卡的共同特征是，带有独立硬件序列发生器，用于控制所有仪器的并行独立运行。爱德万测试（中国）管理有限公司副总裁夏克金博士在介绍该产品时表示：“Wave Scale系列板卡可使当前和下一代射频芯片的测试变得更加高效，具有更好的成本优势，并能缩短产品进入市场的时间。第一批Wave Scale板卡已经在中国的半导体设计公司安装使用，并用于测试现有LTE Category 6标准的芯片，同时为未来更高级的LTE-Advanced Category 10 和Category 16 通信集成电路开发测试协议。”

T5851测试系统为高速存储器提供低成本高性能测试
受益于智能手机、平板电脑普及率的不断提升，最近几年的存储器市场出现了井喷式增长，如何快速而高效地完成测试是存储器企业面临的主要挑战。爱德万测试专为高效能通用快闪储存（UFS）元件与PCIe BGA固态硬盘（SSD）所设计的低成本测试解决方案T5851系统，充分满足智能手机、平板电脑、超便携式产品等低功耗、移动应用市场对于存储器 IC的强劲需求。

T5851测试系统分别提供了量产机型与工程开发机型，让客户可以根据应用需求弹性运用于可靠性测试、品质检验测试、测试程序开发测试等用途，也能在搭载自动化动态机械手（如爱德万测试的M6242）的架构下，应用于量产环境。T5851是一套完全整合式的系统级测试解决方案，不仅支持多种协议，且具备 tester-per-DUT架构与专有的硬件加速器，使测试时间与效率达到最优。

图2  专门用于高速存储器测试的T5851系统

T5851的测试架构与旗下固态硬盘测试解决方案MPT3000产品系列一致，并采用与T5800系列产品相同的多功能平台及FutureSuite软件，将客户的投资成本与测试风险降到最低。此外，系统还提供模组化升级能力，进一步提升客户未来的投资回报率。

T5851系统可随需配置大电流可编程电源（PPS），能满足所有不同电流与下一代元件的测试需求，加之其稳健的模组设计与水冷功能，因此，系统拥有绝佳的测试可靠性。

爱德万测试是半导体行业自动测试设备（ATE）的领先制造商，也是电子仪器和系统设计生产中所用测试系统的主要制造商，自1995年进入中国市场，截至2016年6月份，其测试系统在中国的装机量近3000台。此外，爱德万测试还非常注重与中国市场的深度融合，不仅在上海设立全球第四个研发中心，还建立了公司内部唯一面向全球市场的应用开发中心。3年前，应用开发中心中只有1/3的人力主要负责中国区的业务，由于中国在半导体设计、制造上的实力不断增强，现在，中心内有近半数的人员专门用于支持国内业务。上述全新测试板卡和方案也一定会在中国市场获得广泛应用。